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测试单晶电阻率范围
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>2Ω.cm
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可测单晶少子寿命范围
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5μS～7000μS
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配备光源类型
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波长：1.09μm；余辉<1 μS；
闪光频率为：20～30次／秒； 闪光频率为：20～30次／秒； |
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高频振荡源
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用石英谐振器，振荡频率：30MHz
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前置放大器
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放大倍数约25，频宽2 Hz-1 MHz
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仪器测量重复误差
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<±20％
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测量方式
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采用对标准曲线读数方式
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仪器消耗功率
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<25W
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仪器工作条件
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温度： 10-35℃、 湿度 < 80％、使用电源：AC 220V，50Hz
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可测单晶尺寸
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断面竖测：φ25mm—150mm； L 2mm—500mm；
纵向卧测：φ25mm—150mm； L 50mm—800mm； |
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配用示波器
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频宽0—20MHz；
电压灵敏：10mV／cm； |
FA -LT-2型单晶少子寿命测试仪